Ce este echipamentul de testare TIC?

Elementele de testare TIC sunt utilizate pentru a verifica condițiile deschise și de scurtcircuit ale componentelor individuale și rețelelor de circuite online.

TEST-ul TIC este prescurtarea testatorului de circuit integrat, care este o inspecție on-line și test. Este un echipament de testare standard pentru testarea proprietăților electrice și a conexiunilor electrice ale componentelor on-line pentru a verifica defectele de fabricație și componentele defecte.

Programele de testare TIC pot fi funcții analogice ale dispozitivului și test de funcții logice ale dispozitivului digital, acoperire ridicată de eroare, pentru fiecare tip de furnir care trebuie să facă un pat special cu ac, acest pat cu ac în producția industrială se numește IT IT TEST test.

Caracteristici

Jig de testare TIC cu plafon universal cu două fețe și cu două fețe, pentru a facilita schimbul de tipuri de mașini, utilizarea scaunului Perrin reglabil, ușor de întreținut, utilizarea materialului acrilic și Bakelite și FR-4 (sau specificat), direct Procesarea fișierelor Gerber pentru a genera fișiere de foraj, pentru a asigura exactitatea forajului. Programul de testare este generat automat, evitând posibilitatea erorilor de intrare manuale aplicabile Tri, Jet, Newsys, Okano, Tescon, Takaya, GWPoshell, SRC, Concord, PTI816 și alte modele TIC. Distanța centrală între două puncte măsurate sau puncte măsurate și găurile pre-găurite nu trebuie să fie mai mică de 0,050 "(1,27mm). Este preferată o distanță mai mare de 0,100" (2,54mm), urmată de 0,075 "(1,905mm). Testul test Punctele de fixare trebuie distribuite cât mai uniform posibil pentru a se asigura că placa nu schimbă forma după ce a fost apăsată pentru a evita deteriorarea produsului.

Funcții

Elementele de testare TIC sunt capabile să verifice performanța electrică a componentelor în linie pe plăcile fabricate și conectarea rețelelor de circuite. Poate măsura cantitativ rezistențele, condensatoarele, inductorii, cristalele și alte dispozitive și testează funcțional diode, tranzistoare, fotocouplere, transformatoare, relee, amplificatoare operaționale, module de alimentare, etc. Ca toate cele 74 de serii, tip de memorie, utilizate în mod obișnuit tip driver, tip de comutare și alte ICS.

Programele de testare TIC detectează defectele procesului de fabricație și componentele defecte prin testarea directă a performanței electrice a dispozitivelor în linie. Componentele pot fi verificate pentru a supraevalua, eșec sau deteriorare, iar memoria poate fi verificată pentru erori de program. Pentru categoria procesului se poate găsi, cum ar fi scurtcircuitul de lipit, eroarea de inserare a componentelor, introducerea inversării, scurgerii, deformarea pinului, lipsirea falsă, scurtcircuitul PCB, firele rupte și alte defecțiuni. Defecțiunile de testare sunt poziționate direct în componentele specifice, pinii dispozitivului, punctele de rețea, locația defectelor este exactă. Repararea erorilor nu necesită cunoștințe mai specializate. Utilizarea testării automate controlate de program, funcționare simplă, testare rapidă și rapidă, timpul de testare cu un singur bord este, în general, cu câteva secunde până la zeci de secunde.

Testul on-line este de obicei primul proces de testare în producție, care poate răspunde în timp util la situația de fabricație și este propice îmbunătățirii și îmbunătățirii procesului. Programele de testare TIC au testat plăcile defecte, din cauza localizării precise a defecțiunilor, ușor de reparat și pot îmbunătăți semnificativ eficiența producției și poate reduce costurile de întreținere. Datorită elementelor sale specifice de testare, este unul dintre mijloacele importante de testare pentru asigurarea calității modernizate a producției în masă.